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电子工业出版社共有
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空间单粒子效应:影响航天电子系统的危险因素
作者:(美)Edward Petersen著;韩郑生[等]译
出版社:电子工业出版社出版时间:2016
ISBN/ISSN:978-7-121-28197-6丛书名:国防电子信息技术丛书
分类号:O571.24页数:11,303页
价格:CNY79.00内容简介
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